極片迂曲度隔膜離子電導(dǎo)率測(cè)試儀通過測(cè)試極片對(duì)稱電池的EIS來計(jì)算極片的迂曲度；裝配簡單，自動(dòng)化測(cè)試與分析，簡化操作步驟，提高測(cè)試效率；四通道同步測(cè)試。

漿料電阻率測(cè)試儀采用上中下三對(duì)電極測(cè)試漿料不同垂直高度的電阻率，評(píng)估不同配方漿料的導(dǎo)電性和隨靜置時(shí)間的沉降性能，助力研發(fā)進(jìn)行漿料配方開發(fā)和攪拌工藝穩(wěn)定性監(jiān)控。

漿料電阻儀采用上中下三對(duì)電極測(cè)試漿料不同垂直高度的電阻率，評(píng)估不同配方漿料的導(dǎo)電性和隨靜置時(shí)間的沉降性能，助力研發(fā)進(jìn)行漿料配方開發(fā)和攪拌工藝穩(wěn)定性監(jiān)控。

極片電阻測(cè)試儀結(jié)合高精度壓力控制、厚度和電阻測(cè)試系統(tǒng)，采用雙平面可控壓圓盤電極電阻法測(cè)試極片的整體穿透內(nèi)阻，包含涂層電阻、涂層與集流體接觸電阻以及集流體電阻的總和，可用于極片配方開發(fā)和工藝穩(wěn)定性監(jiān)控。

極片電阻儀結(jié)合高精度壓力控制、厚度和電阻測(cè)試系統(tǒng)，采用雙平面可控壓圓盤電極電阻法測(cè)試極片的整體穿透內(nèi)阻，包含涂層電阻、涂層與集流體接觸電阻以及集流體電阻的總和，可用于極片配方開發(fā)和工藝穩(wěn)定性監(jiān)控。

粉末壓實(shí)密度儀的測(cè)定一方面可作為有效指標(biāo)監(jiān)控粉末材料批次間差異，另一方面可作為研發(fā)材料評(píng)估及工藝優(yōu)化的有效手段。

粉末電阻率儀結(jié)合高精度壓力控制、厚度和電阻測(cè)試系統(tǒng)，四探針和兩探針法自由選擇，精準(zhǔn)測(cè)試粉末的電阻率和壓實(shí)密度，可用于材料研發(fā)以及粉末物料批次穩(wěn)定性監(jiān)控。